點(diǎn)云分析中的最高性能

Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點(diǎn)云。

Metrolog X4 集成了高效光學(xué)測(cè)量功能所需的最新技術(shù)，可確保無論使用哪種設(shè)備都能獲得最佳的結(jié)果。

使用CAD（彩圖分布）進(jìn)行云比較。

元素提取和自動(dòng)GD＆T。

直觀的間隙和面差。

測(cè)量并補(bǔ)償材料厚度。

根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量（面積計(jì)算）。

增強(qiáng)的界面可為最終用戶帶來流暢的體驗(yàn)

可以根據(jù)操作員的習(xí)慣、設(shè)備類型和測(cè)量方法完全自定義用戶界面。

全新的手動(dòng)采點(diǎn)助手。

采集過程中自動(dòng)查看方向。

多個(gè)信息窗口（位置和結(jié)果）。

隨時(shí)可切換的19種語言系統(tǒng)。

讓復(fù)雜的GD&T分析簡(jiǎn)單化

Metrolog X4 具有新的幾何和尺寸公差處理引擎，可在既定時(shí)間內(nèi)處理最復(fù)雜的情況。

簡(jiǎn)化了幾何公差定義。

“專家”級(jí)系統(tǒng)，確保了正確的評(píng)估方法和結(jié)果。

全面支持符合給定標(biāo)準(zhǔn)的公差評(píng)估。

支持ANSI和ISO標(biāo)準(zhǔn)。

檢測(cè)結(jié)果得到PTB和NIST組織的認(rèn)證和認(rèn)可。